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紫外可見光譜儀
- 品牌：美國 Apogee
- 型號： PS-200
- 產地：美洲 美國
- 供應商報價：面議
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點將（上海）科技股份有限公司
更新時間：2025-01-22 09:13:20 -
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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產品特點
- 便攜堅固的鋁制外殼設計
APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的精確測量
在標定的測量范圍350—850nm((NIST 可追溯性)內分辨率小于0.85nm 詳細介紹
用途：
PS-200紫外可見光譜儀可以測量300～850nm的入射、反射和透射光譜，通過電腦軟件可以直接讀出入射光、反射光、透射光的光譜圖。
特點：
便攜堅固的鋁制外殼設計
APOGEE 的余弦校正器，確保低角度光的精確測量
在標定的測量范圍350—850nm((NIST 可追溯性)內分辨率小于0.85nm
技術規格：
探頭主體
波長靈敏度
190～850nm
輻射校正范圍
300～850nm
波長分辨率
0.85nm
檢測器類型
CCD 2048像素
光柵類型
全息光柵和羅蘭光柵，590g/nm
數字轉化
16 bit
信號噪聲比
1000:1
雜散光
0.02%在435nm ; 0.2%在200nm
測量重復性
＜1%
波長不確定性
±10%
檢測器曝光時間
1ms-65s
方向響應
±5%（80°天頂角）
輸出接口
USB 2.0
電源要求
5V DC/100mA，采用USB線纜
工作溫度
0-60℃
光纜長度
2米
尺寸
69mm×100mm×150mm
重量
900g
可選附件：
序號
名稱
型號
產品規格說明
圖片
1
反射探頭
AS-003
用于實驗室光譜儀的反射率探頭
2
反射測量標準盤
AS-004
測量反射光譜時先用它對AS-003進行標準測量
產地：美國
滬公網安備 31011502008050號