新品發布 | 新一代Litesizer DIF 激光衍射粒度儀和Litesizer DLS 系列動態光散射粒度儀
新品發布
Litesizer DIF
Litesizer DLS
Litesizer DIF 激光衍射粒度儀
Litesizer DLS 系列
動態光散射粒度
和 Zeta 電位分析儀
01
Litesizer DIF 激光衍射粒度儀
安東帕的新型激光衍射粒度儀，它建立在近 60 年的專業知識和其前身 PSA 的寶貴經驗之上。
Litesizer DIF 提供領航新一代的粒度測量技術，測量范圍從 10 nm 到 3.5 mm。這是一個新時代的開始，擁有一流的光學系統、強大的 10 mW 和 25 mW 雙波長激光器，以及領先的 0.01° 到 170° 的寬范圍衍射角檢測器陣列。
主要特點
尺寸范圍從10nm 到 3.5mm
兩個固態激光器，10 年保修
市場上最高的激光功率和最寬的角度范圍
16kHz 的尖端數據采集率
光學系統具有減震和防塵設計，穩定耐用
快速連接的分散單元（可與Litesizer DIA互換）
Kalliope軟件-直觀的一頁工作流程設計和專用的QC模式
行業應用
水泥和礦物
制藥行業
食品飲料
化學工業
催化劑
金屬粉末
02
Litesizer DLS 系列動態光散射粒度
和 Zeta 電位分析儀
全新 Litesizer DLS 系列動態光散射粒度和Zeta電位分析儀提供世界領先的粒度和 Zeta 電位測量功能。具有業界先進的多角度測量和自動角度選擇功能，更為先進的 MAPS（多角度協同粒度測量）技術，可實現最高的峰值分辨率。連續透射率監測可在測量過程中檢測沉降和團聚，從而提高測量的可靠性。
主要特點
全功能模式：智能多角度DLS粒度測量、多角度聯合MAPS粒度測量、ELS模式Zeta電位測量、SLS分子量測量、PCON粒子濃度測量、透光率測量、折光率測量
測量溫度： 0 到120℃
最小樣品量：1.5μL
DLS 測量角度：15°、90°、175°三角度
粒度測量范圍從 0.3 nm 到 12 μm
專利 cmPALS 技術，市場領先的 Zeta 電位分析
Kalliape軟件：粒度測量軟件新標桿，簡潔智能，零基礎入門，三次點擊即可獲得專家級測量結果
市場上最強大的偏振和熒光濾光片
可升級：三角度熒光濾光片和偏振片
具備Litesizer DLS101、501、701不同型號，滿足不同需求
行業應用
制藥和生命科學
化學工業
食品飲料
重工業和石油
廢水和造紙
半導體和電池
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- 主流的粒度分析方法是光散射法，其中激光衍射式粒度儀僅對粒度在5um以上的樣品分析較準確，而動態光散射粒度儀則對粒度在5um以下的納米樣品分析準確。
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