為滿足 AFM 使用者對提高 AFM 使用效率的需求，Bruker 開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨率，不增加設(shè)備復(fù)雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利用 Dimension 快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。

當您對樣品進行掃描時，無論設(shè)置實驗參數(shù)為掃描速度>125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張 AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性技術(shù)重新定義了AFM儀器的操作和功能。

高效率

在空氣或液體中成像速度是原來速度的100倍，自動激光調(diào)節(jié)和檢測器調(diào)節(jié)，智能進針，大大縮短了實驗時間。

自動測量軟件和高速掃描系統(tǒng)WM結(jié)合，大幅提高了實驗數(shù)據(jù) 的可信度和可重復(fù)性。

高分辨率

FastScan精確的力控制模式提高圖像分辨率的同時，延長了探針的使用壽命。

掃描速度20Hz時仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的 ScanAsyst 圖像。

低噪音，溫度補償傳感器展現(xiàn)出亞埃級的噪音水平。

在任何樣品上均有好表現(xiàn)

閉環(huán)控制的 Icon 和 FastScan 掃描管極大地降低了 Z 方向噪音，使它們 Z 方向的噪音水平分別低于 30pm 和 40 pm，具有極低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實圖像。

Fast Scan 可以對不同樣品進行測量，保證高度從埃級到 100 多納米的樣品高精度無失真掃描。

靈活的平臺

Dimension FastScan 展現(xiàn)出性能，堅固性和靈活度，為高質(zhì)量AFM 成像和納米研究設(shè)定了新的標準。Dimension系列原子力顯微鏡在不斷演變提升以迎合您不斷增長的研究需求，并且支持AFM的所有模式和力學、電學和電化學附件。

AFM掃描速度的ZX定義

·采用ZD熱漂移的針尖掃描AFM技術(shù)。

·應(yīng)用新的NanoScope控制器，為機器提供了更高的帶寬。

·采用了低噪音的機械和電子的主要部件,結(jié)合高共振頻率X-Y-Z掃描管，在技術(shù)上獲得了重大突破。

·Z方向，探針在Contact模式中移動速度可達到12mm/s，在閉環(huán)工作中X-Y方向的移動速度達到2.5mm/s，X-Y方向的跟蹤誤差<1%。