美國Delong臺式透射電子顯微鏡LVEM5（Bench-top TEM）

臺式設計：體積小巧，靈活性高，價格低

傳統透射電子顯微鏡體積龐大，對放置環境有著嚴格的要求，并且需要制冷機等外置設備。通常會占據整間實驗室。

詳細介紹

Delong Instruments 榮譽出品

? 世界的小型臺式透射電子顯微鏡（TEM）

? 世界的多用途臺式電子顯微鏡

? 透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式

? 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM）

? Schottky場發射電子槍：高亮度、高對比度

? 觀察生物樣品無需染色

? 體積僅為傳統透射電鏡1/10，操作維護簡單

LVEM5從根本上區別于傳統電鏡，尺寸較傳統電鏡縮小了90%，對放置環境無嚴格要求，無需任何外置冷卻設備，可以安裝用戶所需的任意實驗室或辦公室桌面，是目前性價比ZG的電子顯微鏡。

Schottky場發射電子槍：高亮度/高對比度

電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數。LVEM5采用特殊設計的倒置肖特基（Schottky）場發射電子槍，提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達2000小時以上。

傳統TEM多采用100kV以上電子束加速電壓，高能電子束不能區分輕材料中相近的密度和原子序數，對于輕元素樣品（C、N、O樣品，生物樣品）難以獲得好的對比度，影響圖像質量。

LVEM5采用5kV低電壓設計，低電壓電子束對密度和原子序數有很高的靈敏度，對于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對比度。例如，對20nm碳膜樣品，5KV電壓下比100KV電壓下對比度提高10倍以上。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達到1.5nm。

未經染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像，與LVEM5下得到的圖像。

LVEM5采用5kV低加速電壓，圖像具有更好的對比度.

TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式

TEM模式

LVEM5是世界上的臺式透射電子顯微鏡，同時也是的低加速電壓（5kV）透射電鏡。同傳統透射電鏡（80-200kV）相比，增加了電子束與樣品的相互作用，從而提高了圖像對比度

。 提高了圖像對比度

。 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品（如生物樣品）

。 避免染色造成的假象，觀察樣品真實結構

分辨率2nm，放大倍數 5000-202,000x，圖像采集：2048 x 2048

添加TEM升級選件，分辨率提升至1.5nm，放大倍數 50萬倍

STEM模式

在掃描透射電子顯微（STEM）模式下，電子束被聚焦到很小直徑，在樣品上進行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品

SEM模式

掃描電鏡（SEM）模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探測器，提供多個觀測角度。

普通掃描電鏡在觀察不導電樣品時，需要對樣品進行噴金、噴碳處理，以增加樣品導電性。LVEM5的另一優點在于，無需噴金可直接觀測不導電樣品。

分辨率10nm，放大倍數 640x - 100,000x，圖像采集像素：2048 x 2048

操作簡單，換樣快捷，成本低廉

LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設計，使用戶僅需極少的培訓，即可輕松操作。讓用戶在使用時更加舒適。

不同于傳統透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時間，LVEM5更換樣品僅需3min，節省大量時間。

LVEM5S次購置費用遠低于傳統電鏡，且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能，真正的物超所值。LVEM5獨特的設計優勢，在使用中無需冷卻水，無需專業實驗室，維持成本極低。

ED模式

電子衍射（ED）可用于確定樣品的晶體結構、結晶度、相組成.

應用案例