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日立手持礦石光譜儀,日立便攜探礦分析儀,手持找礦分析儀,手持稀土金屬光譜儀
- 品牌:日立
- 型號(hào): Hitachi X-MET8000Expert
- 產(chǎn)地:亞洲 日本
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià):¥2600000
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武漢孑智科技有限公司
更新時(shí)間:2022-07-06 10:48:03
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銷售范圍售全國(guó)
入駐年限第5年
營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品元素分析儀(20件)
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- 日立手持礦石光譜儀,日立便攜探礦分析儀,手持找礦分析儀,手持稀土金屬光譜儀 核心參數(shù)
產(chǎn)品特點(diǎn)
- 性能
X-MET提供極好的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測(cè)限度低,且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。
通過(guò)靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析,從而測(cè)試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確,則使用實(shí)證校準(zhǔn)。
操作簡(jiǎn)單
大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面,使用戶只需要極少的培訓(xùn)便可開(kāi)始操作。
符合人體工學(xué)
X-MET輕便(僅1.5公斤)、簡(jiǎn)潔、平衡性好,可供長(zhǎng)時(shí)間使用,而疲勞度低。
堅(jiān)固耐用而擁有成本低
符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。
通過(guò)MIL-STD-810G耐用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。3年保修。
其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測(cè)量導(dǎo)致探測(cè)器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。 詳細(xì)介紹
X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個(gè)階段——從早期探索到現(xiàn)場(chǎng)關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場(chǎng)的地球化學(xué)分析。這極大減少了對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析的需求,加快了決策過(guò)程并降低了檢測(cè)成本。
為什么選擇X-MET8000 Geo?
優(yōu)秀的性能:我們的革命性BOOST?技術(shù)和大面積硅漂移探測(cè)器提供相當(dāng)于其他HHXRF型號(hào)10倍的靈敏度,提供測(cè)量探路儀或懲罰元件所需的低限探測(cè)范圍。
快速分析:在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量多達(dá)40個(gè)元素;快速完成測(cè)試程序。
因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時(shí)間縮至最短。
出色的穩(wěn)定性:無(wú)論天氣如何,您都可信賴結(jié)果。
易于使用:幾乎不需要用戶培訓(xùn)。
內(nèi)置GPS:將地理坐標(biāo)與測(cè)試結(jié)果相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)好的站點(diǎn)映射。
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時(shí)隨地通過(guò)藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果。
重復(fù)性 | 0.01% | 分析元素 | Mg-U |
檢出限 | 1ppm | 分辨率 | 135eV |
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