E4991A 射頻阻抗/材料分析提供極限阻抗測量性能和功能強大的內置分析功能。它將為元器件和電路設計人員測量 3 GHz 以內的元器件提供創新功能，幫助他們進行研發工作。與反射測量技術不同，E4991A 使用射頻電流–電壓（RF-IV）技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果。基本阻抗精度是 +/-0.8%。高 Q 精度有利于進行低功耗元器件分析。內置合成器具有 1 MHz到 3 GHz 的掃描范圍和 1 mHz的分辨率。

材料評估

E4991A 提供完整的介電/磁性材料測量解決方案，涵蓋 1 MHz 至 1 GHz的寬頻率范圍。 

主要特性與技術指標

基本精度 +/-0.8% 

掃描參數

頻率：1 MHz 至 3 GHz 

振蕩器電平：高達 1 dBm/0.5 Vrms/10 mArms 

DC 偏置電平（選件 E4991A-001）：+/- 40V 或 +/- 50 mA 

更多特性

Windows 風格的用戶界面 

內置 VBA 編程功能 

通過 LAN 接口進行數據傳輸

多功能測量選件

介電/磁性材料測量（選件 E4991A-002） 

可靠的晶圓測量（選件 E4991A-010） 

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