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動態(tài)干涉儀Kaleo-Multiwave
- 品牌:法國Phasics
- 型號/貨號: Kaleo-Multiwave/Kaleo-Multiwave
- 產(chǎn)地:歐洲 法國
- 供應(yīng)商報價:面議
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北京先鋒泰坦科技有限公司
更新時間:2025-05-30 09:11:40
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品波前位相測量(5件)
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產(chǎn)品特點
- 有別于基于傳統(tǒng)Fizeau 干涉儀的方法,采用位相檢測方法直接構(gòu)建的動態(tài)干涉 儀既不需要移動待測元件多次曝光,也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段,針 對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差;Kaleo-Multiwave 多 色動態(tài)干涉儀可用于光學(xué)元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統(tǒng)測試 及實時調(diào)整等。大動態(tài)范圍像差測試能力使其可測平面/ 球面波而無需中繼鏡, 無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。 Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源,可以對大口徑鏡片進行直接或?qū)Ρ葴y量
詳細介紹
- 有別于基于傳統(tǒng)Fizeau 干涉儀的方法,采用位相檢測方法直接構(gòu)建的動態(tài)干涉儀既不需要移動待測元件多次曝光,也不需要采用偏振等復(fù)雜的光學(xué)手段,針對待測元件進行一次測量即可獲得其反射面型或透過波差;Kaleo-Multiwave 多色動態(tài)干涉儀可用于光學(xué)元件面型檢測、透過波差測試、大型望遠鏡系統(tǒng)測試及實時調(diào)整等。大動態(tài)范圍像差測試能力使其可測平面/ 球面波而無需中繼鏡,無色差檢測能力允許使用多個波長甚至白光進行測試。Kaleo-Multiwave 集成了可切換波長的準直光源,可以對大口徑鏡片進行直接或?qū)Ρ葴y量。
光路結(jié)構(gòu)
雙通路測試
測量能力
反射波前面型測量,透射元件波差測量
光源
標準:1/2 路工作波長,ZG可集成 8 路波長
波長選擇
193nm ~ 14 m,如 266、355、405,550、625、780、
940、1050nm,紅外 1.55、2、3.39、10.6 m 等
有效口徑
5.1”,130mm
光學(xué)中心高度
108mm
對準功能
實時相位 / 澤尼克多項式顯示
視場角對準范圍
±2°
可調(diào)對焦范圍
±2.5m
使用環(huán)境
無需隔振
RMS 可重復(fù)性
<0.7 nm
測量精度
80nm p-v
動態(tài)范圍(離焦值)
500 條紋 (SFE = 150 m)
可測反射率范圍
4% ~ 100%
Fizeau 干涉儀(左)與Kaleo-MTF(右)測試鏡片結(jié)果比較 技術(shù)資料