產品介紹：

特征

NanoScope 開放工具箱

MultiMode 8-HR 提供了多種用于監控信號、修改實時操作和實現自定義離線分析的方式。標準 NanoScope? 可直接打開 MATLAB數據并導出ASCII 碼。您可以使用Virtual SAM 監控內部信號并對輸入信號進行修改，或選配 SAM lll 擴展您的功能。還可以通過選配納米刻蝕和修改COM界面來控制AFM的功能。您可以利用 NanoScope 開放訪問功能將實驗擴展到標準 AFM 模式之外，以開發獨特的模式來獲取全新的數據。

用于信號輸入和輸出的 NanoScope 控制器。

PeakForce-HR 模塊

使用PeakForce-HR 對聚合物成像。掃描范圍 1 μm ，掃描速度 5 Hz。 樣品由北卡羅來納大學的 S. Sheiko提供。

MultiMode 8-HR 旨在充分利用峰值力輕敲技術，在空氣成像速度加快了6倍，而不會降低圖像質量。

了解有關峰值力輕敲的更多信息先進的環境控制

Multimode 8-HR 具有對樣品加熱和冷卻功能。低溫配件可在 -35°C 至 100°C 的空氣或液體中加熱和冷卻。高溫配件可加熱至 250°C，通常用于研究聚合物相變。變溫功能的獨特之處在于，允許在變溫過程中通入保護氣，防止樣品氧化和尖 端加熱，還可以同時加熱探針，防止探針被污染。環境控制附件既可與加熱/冷卻配件集成在一起，也可作為單獨的環境室選配。

下載環境控制數據表

三聚物的 PeakForce-HR 圖像。從室溫(左)開始，樣品在加熱至 60°C(中間)時熔化，然后在冷卻至 55°C(右)時重新結晶。掃描范圍 3 μm，以 10 Hz 成像。

AFM 模式

用AFM拓展您的應用

憑借一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術。

基于核心成像模式(接觸模式和輕敲模式)，布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克獨 創的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數據。

了解有關 AFM 模式的更多功能

Multimode 8-HR 數據庫

聚(3-六基乙基苯)(P3HT)有機導電納米線的PF TUNA電流圖，電壓為3V。掃描范圍為 3 μm ，電流從 0 到 80 pA 范圍內變化。

五氧化二氮薄膜的輕敲圖像，掃描范圍為 5 μm。薄膜用作鋰微電池中的正極，并在原始狀態(左)、第 一次放電后(中間)和隨后充電后(右)進行測試。充電/放電循環不可逆地改變了薄膜結構。圖片由法國波城大學的B.Fleutot提供。

用PeakForce HR表征間同立構聚丙烯 (sPP) 和聚乙烯氧化物 (PEO) 共混物。掃描范圍3um，掃描速度5Hz。

PeakForce QNM 圖像揭示了空氣中聚乙烯晶體的分子缺陷。從單個分子的形貌(A) 以及粘附力 (B) 和剛度 (C) 圖可以看出，缺陷位點剛度顯著降低。圖像大小 10 nm。

此模量圖揭示了 ULDPE 連接層與截面包裝材料的 PS/LDPE 密封層之間的微妙過渡。掃描范圍為 3 μm。

通過 PeakForce TUNA 獲得的碳納米管形貌 (A) 和電流 (B) 圖。圖像大小 1 μm。

使用峰值力輕敲得到云母表面原子級分辨率的形貌和粘附力。

使用PF QNM 得到的聚二基硅氧烷 (PDES) 模量圖。在 3 μm 的掃描范圍內，模量從 1.5 到 15 MPa內變化。