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賽默飛世爾 Thermo Scientific? Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)
- 品牌：賽默飛世爾
- 型號： Thermo Scientific? Nexsa G2
- 產(chǎn)地：美洲 美國
- 供應(yīng)商報(bào)價(jià)：面議
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賽默飛電子顯微鏡
更新時(shí)間：2025-05-26 10:01:35 -
銷售范圍售全國
入駐年限第8年
營業(yè)執(zhí)照已審核
- 同類產(chǎn)品其它無損檢測儀器/設(shè)備 (39件)
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為您推薦
產(chǎn)品特點(diǎn)
- Thermo Scientific? Nexsa G2 X 射線光電子能譜儀（XPS）系統(tǒng)能提供全自動(dòng)、高通量的表面分析，提供數(shù)據(jù)以推進(jìn)研究和開發(fā)，或解決生產(chǎn)問題。XPS 與離子散射光譜（ISS）、UV 光電子能譜（UPS）、反射電子能量損失譜（REELS）以及拉曼光譜集成，讓您能夠開展真正意義上的相關(guān)性分析。該系統(tǒng)現(xiàn)包含樣品加熱和樣品加偏壓功能選項(xiàng)，拓寬可進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)范圍。Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)發(fā)掘了在材料科學(xué)、微電子、納米技術(shù)開發(fā)和許多其他應(yīng)用領(lǐng)域取得新進(jìn)展的潛力。
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品介紹：
標(biāo)準(zhǔn)化功能催生強(qiáng)大性能：
高性能 X 射線源
優(yōu)異的電子光學(xué)系統(tǒng)
樣品視圖
絕緣樣品分析
數(shù)碼控制
NX 樣品加熱器模塊
可選的升級：可將任何全自動(dòng)化集成技術(shù)添加到您的分析中。觸動(dòng)按鈕即可運(yùn)行。ISS：在離子散射光譜技術(shù)中，一束離子可被某物體表面散射
UPS：紫外光電子能譜是指對吸收了紫外光子的分子所發(fā)射的光電子動(dòng)能譜進(jìn)行測量，以確定化合價(jià)區(qū)域中的分子軌道能量
拉曼：能譜技術(shù)在化學(xué)領(lǐng)域被用于提供結(jié)構(gòu)指紋
REELS：反射電子能量損失譜
快照成像
借助 SnapMap 的光學(xué)視圖，聚焦于樣品特征。光學(xué)視圖可以幫助您快速定位目標(biāo)區(qū)域，同時(shí)生成完全聚焦的 XPS 圖像，以進(jìn)一步定義您的實(shí)驗(yàn)。1.X 射線照射樣品上的一個(gè)小區(qū)域。2.收集來自這一小區(qū)域的光電子并將其聚焦于分析儀3.隨著鏡臺的移動(dòng)，不斷采集能譜4.在整個(gè)數(shù)據(jù)采集過程中監(jiān)測鏡臺位置，這些位置用來生成 SnapMap應(yīng)用領(lǐng)域蓄電池
生物表面
催化劑
陶瓷
玻璃涂層
石墨烯
金屬 & 氧化物
納米材料
OLED
聚合物
半導(dǎo)體
太陽能電池
薄膜
技術(shù)資料
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