簡介  

為了滿足現代材料研究的挑戰，Swift開發了一系列完全可定制的原位拉伸試樣臺。這些拉伸試樣臺適合多種顯微觀測系統，比如掃描電鏡、透射電鏡、光學顯微鏡、共聚焦顯微鏡等。支持EBSD，樣品加熱和冷卻,可實現原位“拉伸—剪切”、“壓縮—剪切”、“單軸拉伸/壓縮”、“純剪切”及疲勞力學測試等多重測試模式，實現原位復合載荷測試薄膜及細絲力學實驗。

Swift原位拉伸試樣臺也可立使用測定材料力學參數；同時由于結構緊湊微小、充分考慮了真空兼容性和電磁兼容性，因此可實現與金相顯微鏡、掃描電鏡、拉曼光譜儀、X射線衍射儀、原子力顯微鏡等顯微成像設備的兼容，所采用的超低速準靜態加載方式有利于在成像儀器下對載荷作用下材料細微的變形損傷變化狀況進行連續的可視化原位監測，便于系統深入的研究揭示載荷作用、材料變形損傷機制與微觀結構變化間的規律。

應用

Swift拉伸試驗臺是通用的，能夠在各種材料上進行各種機械測試。在靜態或動態條件下觀察材料表面納米級微觀形態和結構變化。通過實時獲取的載荷，形變和溫度等數據，并結合掃描電子顯微鏡提供的材料微觀結構分析數據，實現了定量分析材料微觀力學性質，相變行為，取向變化，裂紋萌生和擴展，材料疲勞和斷裂機制，材料彎曲機制，高溫蠕變性，分層，形成滑移面以及脫落等現象。

- 半導體器件，薄膜

- 硬質涂層，電鍍層

- 金屬材料，陶瓷材料

- 玻璃，塊體材料

- 復合材料，聚合物材料

- 電鍍層，釬焊或焊接接頭

- 礦物，木材

- 有機材料等等

測試方法

拉伸試樣臺型號

Swift開發了一系列基礎拉伸試樣臺，可以實現完全定制和增強，以適應多種應用。

型號 A 傾斜臺

該模型設計了一個帶有旋轉和傾斜工作臺，測試樣品可以在任意一個0°平角或70°EBSD角度。標準加載裝置大加載力5KN,可升級10kN測壓元件。樣品臺行程26mm。

型號B試驗臺具有較低的外形系數以適合受限的SEM室，并且可以在0°或70 °EBSD下測試樣品。負載范圍可達5kN。樣品臺行程可達26mm。

C型微型拉伸臺是專門為小型或臺式SEM開發的，并配置為在0°或70 °EBSD下測試樣品。負載范圍高達2kN。樣品臺行程可達16mm。

控制器和軟件

Swift儀器的拉伸臺采用計算機控制的工作流程設計，使操作簡單高效。

控制器

軟件

程序測試例程通過一個拖放界面，能夠控制力和溫度。記錄試驗荷載、位移和溫度，自動計算應力和應變。測試數據可以導出進行外部分析。