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美國SVT 在線陰極熒光光譜儀/In-Situ CL
- 品牌：SVT Associates
- 型號： SVTA-CL
- 產地：美洲 美國
- 供應商報價：面議
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美國SVTA公司中國辦事處
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照
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詳細介紹
此在線CL系統是監控MBE生長過程的理想選擇。
CL可以放置在獨立的觀察窗位置。
通過RHEED槍以及敏感的光學探測系統，CL可以實時提供材料組分的準確信息，并進行實時光學分析。
部件有8''的前后移動容域度，避免與其他部件相互干擾。
CL通過電子激發技術調節電子能量，可以檢測較深的薄膜表面信息。
與其配套的Windows軟件操作系統，可以實現操作自動化及圖譜分析。
特點
一個端口可以同時監測薄膜成分和光學分析
摻雜水平信息
部件可前后移動，使部件間相互干擾最小化
全電腦控制及分析
光譜范圍
200-900nm
分辨率
0.5nm
探測器量子效率
25%
探測器輸出
10V/nW
噪音等效
<250V
觀察窗口
2.75''CF
外部尺寸
9.0''X25.5''X10.1'' (22cm×65cm×26cm)
腔室內尺寸
1.25''×13.1'' (3.2cm×34cm)
行程距離
最大8''(20.3cm)
靶距離
2''(5.1cm)
電腦要求
Windows 9X，2000，XP
滬公網安備 31011502008050號