經過多年的研究與進步，是德納米壓痕儀已經發展成為一種測量精確、用途靈活、界面友好的測試工具，廣泛應用于納米力學測試研究中。配有電磁驅動裝置的儀器系統，在力學和位移操作上，可以達到的動態測量范圍。

Nano Indenter G200是一套完整的納米力學顯微探針系統，其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學顯微鏡等。整個測試流程都是全自動的，這樣就提高了測試數據的可靠性和可重復性。

G200主要特性與技術指標

• 符合 ISO 14577 標準的測量結果

• 具有動態范圍的電磁驅動器

• 具有靈活性，以及針對可重復使用或全新應用的可升級能力

• 通過壓痕深度處的連續剛度測量，實現動態特性表征

• 實時控制、簡便的協議開發和漂移補償

優勢

• 精確的測量結果，高度的再現性，完全符合IS014577國際標準，GB／T 22458-2008國家標準。

• 載荷和位移的動態測量范圍在同類產品中首屈yi指

• 利用連續剛度測量技術對壓入深度方向的動態力學性能進行精確的表征

應用

• 半導體材料

• 薄膜材料

• 微機電系統

• 硬質涂層

• DLC膜

• 生物材料

若需要大的樣品臺，請查看G300納米壓痕測試系統相關信息 。