日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀ULTIMA IV得到了活躍在世界科學領域前沿的學者和研究者的高度評價和 信賴,是X射線衍射儀器的旗艦產品，聚焦法光學系統和平行光束法光學系統可 輕松切換.不需要重新設置,水平測角儀,操作方便,可自由 組合各種附件,適合多種樣品的各種測試，可以進行材料的物相鑒定及定量分析以及研究材料原子尺度結構不可或缺、起決定性作用的設備，應力、織構、取向度和結晶度的測定；薄膜物相及物性分析等。

技術參數

1、多用途薄膜測試組件；

2、X射線衍射-差示掃描量熱儀同時測量裝置 XRD-DSC；

3、分析軟件包括：XRD分析軟件包、NANO-Solver軟件包、GXRR軟件包等；

4、X射線發生器功率為3KW；

5、測角儀為水平測角儀；

6、測角儀最小步進為1/10000度；

7、In-Plane測試組件；

8、高速探測器D/teX-Ultra；

9、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高強度高分辨平行光路（帶Mirror）；

10、小角散射測試組件；

11、微區測試組件；

12、測角儀配程序式可變狹縫；

13、高反射效率的石墨單色器；

14、測角儀半徑:185mm,285mm(選購),280mm(TTR)；

15、X射線防護罩:帶故障保險機構的開閉式防護罩；

16、X射線發生器:3kW。

主要特點：

1、高速X-射線檢測器，檢測器的速度和強度大幅提高；

2、全新的軟件設計理念，豐富的內容, 簡明流暢；

3、光路系統自動調整校準：配備X-射線光路自動調整校準模式；

4、豐富的功能附件保障了儀器升級的可能；

5、水平測角儀：特別適合粉末類樣品，尤其是易于產生取向效應的樣品；

6、全自動狹縫調整裝置；

7、獨特的光學系統，可實現交叉光路和平行光路的自動程序互換。

日本理學Rigaku x射線粉末衍射儀 ULTIMA IV采用聯鎖裝置，在X射線開啟狀態下無法打開樣品室操作窗。在測試中如果指令樣品室解鎖，則快門關閉同時停止X射線，應用于石棉、游離氧化鈣等定量分析、工業原材料品質管理、大學、科研等等，入射和發散狹縫可選，為您提供所需的分辨率，一維高速探測器、6位樣品自動轉換器、旋轉樣品臺、氣密樣品臺等，實時角度校正功能，大幅提高角度精度、強度等基本性能，得到高精度測試數據，可以選配單色器，用于扣除熒光X射線背底，提高信噪比進行高質量數據測試。