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全自動顯微鏡 NX-HDM 全自動缺陷檢測原子力顯微鏡
- 品牌:納騰
- 型號: NX-HDM
- 產地:上海 徐匯區
- 供應商報價:面議
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上海納騰儀器有限公司
更新時間:2025-03-17 17:30:12
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照
- 同類產品原子力顯微鏡(16件)
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產品特點
- 對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率。
詳細介紹
對于工程師來說,識別介質/平面基底的納米級缺陷的任務是一個非常耗時的過程,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統可以自動缺陷識別,通過與各種光學儀器的聯用可以提高缺陷檢測效率,越來越多的行業需要超平的介質和基板來滿足不斷縮小的設備需求,Park NX-HDM原子力顯微鏡系統具有業界低0.5埃噪音,并將與其真正的非接觸式模式相結合實現亞埃級表面粗糙度的測試。
基本技術參數
200 mm電動XY平臺
電動Z平臺
噪音
行程可達150mm x 150mm,
2 μm重現性 0.095nm分辨率
25 mm Z行程距離
0.1μm 分辨率 小于1μm 重現性
小于 0.5 μm/s
尺寸&重量
控制箱
設備需求環境
880(w)x 880(d)x 880(h)
620kg
600(w)x 900(d)x 1330(h)
170kg
室溫10 ℃~40 ℃
操作18 ℃~24 ℃
濕度 30%~60%
主要功能
1) 快速自動缺陷檢測功能
2) 亞埃級表面粗糙度的測量
3) 有小的熱漂移,自動分析測量的數據
4) 在線監測測試過程,
應用
自動檢測缺陷
相關文獻
Foucher; R Therese; Y. Lee; S.-I. Park; S-J. Proc. SPIE 8681,Metrology, Inspection, and Process Control for MicrolithographyXXVII, 868106 (April 18, 2013); doi:10.1117/12.2011463
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