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日本 Mitutoyo 三豐高精度測量顯微鏡 Hyper MF/MF-U

品牌：日本三豐
型號： Hyper MF/MF-U
產地：亞洲日本
供應商報價：面議

北京創誠致佳科技有限公司更新時間：2025-03-14 08:40:19

銷售范圍售全國

入駐年限第7年

營業執照已審核

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產品特點

日本三豐HYPER MF/MF-U高精度測量顯微鏡實現了高精度的測量顯微鏡。(zui小顯示分辨力0.01UM)。主機的前臺操作設計是基于UD(通用化設計)的理念。配備三軸電動前置控制手柄，這使傳統的顯微鏡操作有了全新的變化，即使在快速運動的過程中也能進行精細定位。用戶可選擇傳統的顯微鏡光學管路或帶內置激光自動對焦功能的光學管路，其觀察方法多種多樣，提高了測量工作的效率。

詳細介紹

產品特點

? 實現了高精度的測量顯微鏡。(最小顯示分辨力0.01um)。

? 主機的前臺操作設計是基于UD(通用化設計)的理念。

? 配備三軸電動前置控制手柄，這使傳統的顯微鏡操作有了全新的變化，即使在快速運動的過程中也能進行精細定位。

? 用戶可選擇傳統的顯微鏡光學管路或帶內置激光自動對焦功能的光學管路，其觀察方法多種多樣，提高了測量工作的效率。

? 行程為250×150mm 的大工作臺可為大工件的測量提供足夠的空間。

? 使用超高精度低熱膨的玻璃光柵尺和高分辨力的讀數頭。

? 暢銷的數據處理裝置QM-Data200 和VisionUnit 可結合使用，提供有效且穩定的測量環

境。

? 晶片夾持器(可用于小于8" 的晶片) 和高硬度中心支架滿足高精度測量的需求。

? 電動轉塔型擁有回縮功能，該功能在更換物鏡時啟動工作。

技術參數

型號		HyperMF-B2515B	HyperMF-UB2515B	HyperMF-UD2515B	HyperMF-UE2515B	HyperMF-UF2515B
光路		有限校正光學系統 —	無限校正光學系統 BF(亮視場)	無限校正光學系統 BD(亮/暗視場)	無限校正光學系統 BF(亮視場)帶LAF功能	無限校正光學系統 BF(亮/暗視場)帶LAF功能
標準分劃板(內置)		90o點劃線十字線(線寬5μm)
可調瞳距		西登托夫型調節范圍：51-76mm
光路切換比		觀察/TV顯微攝影=50/50
垂直傾斜角度		25°	傾斜
TV端口		作為標準配置提供
觀察圖像		正像
目鏡	放大倍率	10X, 15X, 20X
物鏡 (可選)		可選單筒目鏡(配有一個目鏡) 或雙筒目鏡(配有兩個目鏡)	配備兩個10X目鏡
	ML系列物鏡	1X,3X,5X,10X,20X, 50X,100X	-
	BF(亮視場)	-	M Plan Apo, M plan Apo SL, G plan Apo
	BD(亮/暗視場)	-	BD Plan Apo, BD Plan Apo SL
轉塔 (可選)	BF(亮視場)	-	(配有四孔手動傳感器/電動五孔傳感器)
	BD(亮/暗視場)	-	(配有四孔手動傳感器/電動五孔傳感器)
聚焦部分	最大工件高度	150mm
	測量精度	(1.5+0.01L) μm L：測量長度(mm)
	驅動方式	使用控制手柄進行電動控制
照明裝置	透射照明裝置	遠心光學系統，內置孔徑光闌，鹵素燈泡(12V，50W)，100級光強度可調，光纖冷光照明
	反射照明裝置	科勒照明，可變孔徑光闌機制，鹵素燈泡(12V，100W)，100級光強度可調，光纖冷光照明
工作臺	測量范圍（X*Y）	250×150mm
	測量精度 (X和Y軸無負載)	(0.9+0.003L) μm L：測量長度(mm)
	工作臺尺寸	460×350mm
	載物玻璃有效尺寸	300×200mm
	旋轉角度	±3o
	最大承重	30kg
	驅動方式	使用手柄進行電動控制
檢測器		高精度光柵尺(ZG)
數顯	分辨力	0.01μm
	顯示軸	X, Y, Z
	數據處理裝置	QM-DATA200或Vision Unit
操作部分	手柄急停按鈕	可用
	精細間距	可用
	數據輸出	可用
	數字顯示復位	可用
	照明光強度控制	可用
	LAF（只對焦）	-	-		可用
	LAF（跟蹤對焦）	-	-		可用
	轉塔控制	-	可用 (安裝電動轉塔時)
更換燈泡時，鹵素燈泡用于透射照明		標準：02APA527(12V50W)
更換燈泡時，鹵素燈泡用于反射照明		標準：517181(12V100W)
		高亮度：12BAD602(12V100W)