6433系列光波元件分析儀（10MHz～67GHz）

一、6433系列光波元件分析儀概述

       6433系列光波元件分析儀包括6433D（10MHz～26.5GHz）、6433F（10MHz～43.5GHz）、6433H（10MHz～50GHz）、6433L（10MHz～67GHz）4個型號。6433系列光波元件分析儀是面向高速電光（E/O）器件、光電（O/E）器件、光光（O/O）器件特性測試的解決方案，調制頻率范圍覆蓋10MHz~67GHz，支持不同頻率范圍、頻率間隔、中頻帶寬的設置，頻率分辨率達到1Hz。6433系列采用一體集成的設計方案，通過寬帶硬件優化設計，構建網絡誤差模型，利用核心校準算法，實現一鍵式寬帶快速掃頻測試，主要用于現代高速光傳輸系統中核心的電光器件（電光調制器、直接調制激光器、光發射組件）、光電器件（PIN光電探測器、APD光電探測器、光接收組件）、光光器件（光纖濾波器等光無源器件）的帶寬、幅頻響應、相頻響應、群時延等參數測試.

二、6433系列光波元件分析儀功能特點

• 校準方便快捷，向導式操作流程

• 一體化多功能操作界面

• 大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

• 用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

• 單端-平衡光電器件模式測量

• 多功能化工具箱

• 內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

• 具備光源輸出功率快速自動校準功能

三、6433系列光波元件分析儀功能描述

• 校準方便快捷，向導式操作流程

6433系列光波元件分析儀在校準方面具有清晰的操作流程，主要包括電校準和光路參數校準，通過采用向導式操作提示為用戶提供快速高精度校準。

• 一體化多功能操作界面

6433系列光波元件分析儀具備了電電、電光、光電、光光四種測量模式，四種光電校準模式，功能模式之間可任意切換，滿足目前絕大多數通用器件的S參數、阻抗、時域等參數測量需求。

• 大動態測量范圍，測量軌跡噪聲小

采用高精度和響應平坦的內部核心器件，結合設定不同的中頻帶寬值，可獲得更大的動態測量范圍和更小的軌跡噪聲，可以獲取測量結果的更多細節。

• 用戶數據自動移除，為在片測試提供擴展使用

通過用戶自定數據或夾具去嵌入數據提升測量精度，尤其在片測試時所需的探針誤差移除時，使得測量更加靈活，滿足用戶不同場合的測量需求。

• 單端-平衡光電器件模式測量

儀器可通過選用不同的配置，滿足單端-單端和單端-平衡的光發射或光接收器件或組件對差分增益和共模抑 制參數的測試需求，更加貼合現有和未來高速光纖通信領域中多端口參數的測量場合。

• 多功能化工具箱

光發射與光接收結構一體化集成和功能互聯，內置大動態范圍光功率計，可實時監測輸入光功率數值，用于內外光源功率校驗；通過設置，為M-Z型LiNiO3調制器提供所需的保偏光源。光接收模塊絕 對 頻率響應大于-3dB，更好地提取微小信號；雙端口光接收測量，提供更寬的測量范圍選擇。

• 內、外部光源波長設定，更寬的通信波長測試范圍

測試不僅局限于1310nm/1550nm，支持1260nm~1610nm的外部光源輸入，覆蓋更寬的通信波長，滿足CWDM、DWDM系統核心器件測量需求。

四、6433系列光波元件分析儀主要參數

五、6433系列光波元件分析儀典型應用

• 電光器件特性分析

電光調制器、直接調制激光器等電光器件的S11參數和S21參數測試，通過多窗口對比分析，用戶能更快獲取測試對象的各頻點反射和傳輸特性。

• 光電器件頻率響應特性測試

實現光電探測器等光電器件的10MHz~67GHz頻率響應測試，3dB帶寬快速分析及精 準頻響測試可滿足科研、產品線等測試需求。

• 相頻響應特性分析

產品具有強大的相頻響應特性測量功能，快速分析光電器件相位、群時延等參數。