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Bruker D8 ADVANCE x射線衍射儀
- 品牌:德國布魯克
- 產地:歐洲 德國
- 供應商報價:面議
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上海爾迪儀器科技有限公司
更新時間:2025-06-03 09:02:59
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
- 同類產品X射線衍射儀(4件)
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為您推薦
產品特點
- X射線衍射(XRD)是在環境或非環境條件下從幾乎任何類型的樣品中提取結構信息的方法,而不論其形狀、大小或成分如何。
因此,對X射線衍射儀的最主要需求就是對開放的設計和模塊化,以及大限度的用戶友好性、 詳細介紹
D8 ADVANCE 規格:
功能
規格
優勢
TRIO 光路和TWIN光路
軟件按鈕切換:
馬達驅動發散狹縫(BB幾何)
高強度Ka1,2平行光束
高分辨率Ka1平行光束
可在多達6種不同的光束幾何之間進行全自動化電動切換,無需人工干預
是所有類型的樣品分析的理想之選,包括粉末、塊狀材料、纖維、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)
動態光束優化
動態同步:
馬達驅動發散狹縫
馬達驅動防散射屏
可變探測器窗口
2?角度范圍:小于1度至>大于150度
數據幾乎不受空氣、儀器和樣品架散射的影響
大大提高了檢測下限,可定量分析少量晶相和非晶相
在較小的2θ角度,具有無與倫比的性能,可對粘土、藥物、沸石、多孔材料及其他材料進行精確研究
LYNXEYE XE-T
能量分辨率:<380 eV @ 8 KeV
檢測模式:0D、1D、2D
波長:Cr、Co、Cu、Mo和Ag
無需K?濾波片和二級單色器
銅輻射即可100%過濾鐵熒光
速度比傳統探測器系統快450倍
BRAGG 2D模式:使用發散的初級線束收集2D數據
探測器保證:交貨時絕無壞道
EIGER2 R
Dectris 公司開發的基于混合光子計數技術的新一代探測器,支持多種模式(0D / 1D / 2D)
在步進掃描、連續掃描和高級掃描模式中無縫集成0D、1D和2D檢測
符合人體工程學的免對準探測器旋轉功能,可優化γ或2?角度范圍
使用完整的探測器視野、免工具全景衍射光束光學系統
連續可變的探測器位置,以平衡角度范圍和分辨率
旋轉光管
在線焦斑和點焦斑應用之間輕松快捷地進行免對準切換
無需斷開電纜或水管,無需拆卸管道
DAVINCI設計:全自動檢測和配置聚焦方向
自動進樣器
FLIPSTICK:9個樣品
AUTOCHANGER:90個樣品
在反射和透射幾何中運行
D8 測角儀
帶獨立步進電機和光學編碼器的雙圓測角儀
布魯克獨有的準直保證,確保了無與倫比的準確性和精確度
絕對免維護的驅動機構/齒輪裝置,終身潤滑
非環境條件
溫度:從~85K到~2500K
壓力:10-?mbar至100 bar
濕度:5%至95%
在環境和非環境條件下進行研究
DIFFRAC設計助您輕松更換樣品臺
基于D8衍射儀系列平臺的D8 ADVANCE,是所有X射線粉末衍射和散射應用的理想之選,如:
典型的X射線粉末衍射(XRD)
對分布函數(PDF)分析
小角X射線散射(SAXS)和廣角X射線散射(WAXS)
由于具有出色的適應能力,僅使用D8 ADVANCE,您就可對所有類型的樣品進行測量:從液體到粉末、從薄膜到固體塊狀物。
無論是新手用戶還是專家用戶,都可簡單快捷、不出錯地對配置進行更改。這都是通過布魯克獨特的DAVINCI設計實現的:配置儀器時,免工具、免準直,同時還受到自動化的實時組件識別與驗證的支持。
應用范圍:
相鑒定:材料可靠性鑒別(PMI)最為常見,這是因為其對原子結構十分靈敏,而這無法通過元素分析技術實現。
定量相分析:方法包括EVA軟件半定量分析、DQUANT軟件面積法分析和DIFFRACTOPAS軟件全譜擬合分析法
非環境 XRD:可以在DIFFRAC.WIZARD中配置溫度曲線并將其與測量同步,然后可以在DIFFRAC.EVA中顯示結果
織構分析:在DIFFRAC.TEXTURE軟件中,使用球諧函數和組分分析方法,生成極圖、取向分布函數(0DF)和體積定量分析。
殘余應力分析:在DIFFRAC.LEPTOS中分析鋼部件的殘余應力:通過sin2psi方法,使用Cr輻射測量得到。
X射線反射法(XRR):在DIFFRAC.LEPTOS中,對多層樣品的薄膜厚度、界面粗糙度和密度進行XRR分析。
小角X射線散射(SAXS):在DIFFRAC.SAXS中,對EIGER2R500K通過2D模式收集的NIST標樣SRM 80119nm金納米顆粒進行粒度分析。
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