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薄膜測試的主要方法研究

更新于：2009-03-26

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北京燕京電子有限公司成立于1988年，注冊資金2124萬元公司位于北京城東北部酒仙橋的中關村電子城科技園區內，建筑面積2000多平方米，地理位置優越，交通便利自成立22年以來，燕京電子一貫秉承以科技為先導，以服務為根本的宗旨，為科研院所和生產企業提供先進的儀器設備及解決方案，以其良好的企業形象和品牌價值，發展成了業內的儀器設備服務商之一燕京電子一直以科技先行者的姿態，將國際先進的儀器技術和解決方案引入國內，并薄膜厚度是否均勻一致是檢測薄膜各項性能的基礎很顯然，倘若一批單層薄膜厚度不均勻，不但會影響到薄膜各處的拉伸強度阻隔性等，更會影響薄膜的后續加工對于復合薄膜，厚度的均勻性更加重要，只有整體厚度均勻，每一層樹脂的厚度才可能均勻因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預設值一致，厚度偏差是否在指定的范圍內，這些都成為薄膜是否能夠具有某些特性指標的前提薄膜厚度測量是薄膜制造業的基礎檢測項目之一美國AST SE200BM/300BM系列橢偏薄膜分析儀美國AST橢偏儀 SE200BA/500BA系列橢偏儀 SE200BA 美國AST光譜反射薄膜分析儀SR300 掃描近場光學顯微鏡原子力顯微鏡 ST4000光學薄膜測厚儀美國AST MSP300 顯微分光光度計美國AST MSP500 顯微分光光度計掃描隧道顯微鏡光學薄膜測厚儀 ST4080-OSP 光譜反射薄膜測厚儀SR100 光譜反射薄膜測厚儀 SR500 美國AST 橢偏薄膜分析儀 SE200-MSP ST2000光學薄膜測厚儀

內容節點: 概述; 實驗/設備條件; 樣品提取; 實驗/操作方法; 實驗結果/結論; 儀器/耗材清單

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