USB3.0 信號完整性測試
USB 3.0測試方法
擁有許多其它高速串行技術(shù)(如PCI Express和串行ATA)共有的特點:8b/10b編碼,明顯的通道衰減,擴頻時鐘。本文將介紹一致性測試方法及怎樣對發(fā)射機、接收機及線纜和互連進(jìn)行最精確的、可重復(fù)的測量。
High Speed Vs. SuperSpeed
USB 3.0滿足了市場對于更高帶寬下實時體驗應(yīng)用的需求。目前USB設(shè)備達(dá)數(shù)十億,因而USB 3.0也提供了向下兼容能力,支持傳統(tǒng)USB 2.0設(shè)備。然而,USB 2.0和3.0在物理層有多種差異 (表1)。

表1. USB 2.0 和 SuperSpeed USB物理層區(qū)別
SuperSpeed USB一致性測試已經(jīng)有明顯變化,以適應(yīng)更高速接口帶來的新挑戰(zhàn)。USB 2.0接收機驗證需要執(zhí)行接收機靈敏度測試。USB 2.0設(shè)備必須對150 mV及以上的測試包做出響應(yīng),并且忽略100 mV以下的信號。
SuperSpeed USB接收機必須面對更多的信號損傷,因此測試要求要比USB 2.0更加苛刻。設(shè)計人員還必須考慮傳輸線效應(yīng),在發(fā)射機中使用均衡技術(shù)(包括去加重),在接收機中使用連續(xù)時間線性均衡技術(shù)(CTLE)。此外,現(xiàn)在還要求在接收機上進(jìn)行抖動容限測試,使用擴頻時鐘(SSC)和異步參考時鐘可能會導(dǎo)致互操作能力問題。
評估USB 3.0串行數(shù)據(jù)鏈路另一個重要部分是被測波形與互連通道的聯(lián)系非常復(fù)雜。不能再認(rèn)為只要發(fā)射機輸出滿足了眼圖模板,電路就一定能在傳輸損耗滿足要求的通道中正常工作。想了解發(fā)射機余量一定時的最差的傳輸通道,您需要在一致性測試要求以外建立通道和線纜組合模型,使用通道建模軟件,分析通道效應(yīng) (圖1)。

圖1. 軟件工具,可以針對參考測試通道分析USB 3.0 通道效應(yīng)。
發(fā)射機一致性測試
通過使用各種測試碼型以幫助進(jìn)行發(fā)射機測試 (表2)。每種碼型都是根據(jù)與評估碼型的測試有關(guān)的特點而選擇的。CP0(一種D0.0加擾序列)用來測量確定性抖動(Dj),如數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(DDJ)。CP1(一種未加擾D10.2全速率時鐘碼型)不生成DDJ,因此更適合評估隨機性抖動(RJ)。

表2. SuperSpeed USB 發(fā)送端一致性測試碼型
抖動和眼高的測量是通過對100萬個連續(xù)比特(UI)進(jìn)行分析而得到,需要使用均衡器功能和適當(dāng)?shù)臅r鐘恢復(fù)設(shè)置(二階鎖相環(huán)、或稱為PLL,10 Mhz環(huán)路帶寬,0.707的阻尼系數(shù))。通過分析被測數(shù)據(jù)樣本,可以外推出10-12誤碼率(BER)下的抖動值。例如,通過外推算法,把測得的RJ (rms)乘以14.069,可以得到10-12誤碼率下RJ(PK-PK)。

圖2. 標(biāo)準(zhǔn)化發(fā)射機一致性測試設(shè)置,包括參考測試通道和線纜。測試點2 (TP2)距被測器件(DUT)最近,測試點1 (TP1)是遠(yuǎn)端測量點。
在TP1采集信號后,可以使用SigTest軟件處理數(shù)據(jù),這與PCI Express官方的一致性測試方法類似。對需要預(yù)測試一致性、檢定或調(diào)試的應(yīng)用,希望可以進(jìn)一步了解電路在各種條件或參數(shù)下的特點。裝有USB 3.0分析軟件的高帶寬示波器提供了Normative和Informative方式的物理層發(fā)射端自動測量。省掉了手動配置的步驟,大大節(jié)約了測量時間。
在測試完成后,詳細(xì)的Pass/Fail測試報告標(biāo)記出哪里可能發(fā)生設(shè)計問題。如果在不同測試地點(如公司實驗室、測試中心)結(jié)果不一致,可以使用之前測試時保存的波形數(shù)據(jù)重新分析(離線測量)。
如果要求更多的分析,可以使用抖動分析和眼圖分析軟件,調(diào)試和檢定電路。例如,可以一次顯示多個眼圖,允許工程師分析不同時鐘恢復(fù)設(shè)置或軟件通道模型的影響。此外,可以使用不同的濾波器,分析SSC的影響,解決系統(tǒng)互操作能力問題。
均衡考慮因素
由于明顯的通道衰減,SuperSpeed USB要求某種形式的補償,張開接收機上的眼圖。發(fā)射機上采用均衡技術(shù),其采用去加重的形式。規(guī)定的標(biāo)稱去加重比是3.5 dB,用線性單位表示為1.5倍。例如,在跳變比特電平為150 mVp-p時,非跳變比特電平為100 mVp-p。
CTLE標(biāo)準(zhǔn)均衡實現(xiàn)方案包括片內(nèi)技術(shù)、有源接收機均衡或無源高頻濾波器,如線纜均衡器上使用的濾波器。這一模型特別適合一致性測試,因為它非常簡便地描述了傳輸函數(shù)。CTLE通過頻域中的一系列極點和零點,在特定頻率上達(dá)到峰值(Peak)。
CTLE實現(xiàn)方案的設(shè)計要比其它技術(shù)簡單,能耗要低于其它技術(shù)。然而,在某些情況下,由于適應(yīng)性、精度和噪聲放大方面的限制,僅僅使用CTLE實現(xiàn)方案可能是不夠的。其它技術(shù)包括前向反饋均衡(FFE)和判定反饋均衡(DFE),通過對數(shù)據(jù)樣點加權(quán)一些補償系數(shù)來補償通道損耗。
CTLE和FFE是線性均衡器。因此,這兩種技術(shù)都會提升高頻噪聲,而產(chǎn)生信噪比劣化。但是,DFE在反饋環(huán)路中使用非線性元器件,使噪聲的放大達(dá)到最小,補償碼間干擾(ISI)。圖3示例了一個經(jīng)過傳輸通道明顯衰減的5Gbps 信號,和使用去加重、CLTE和DFE均衡技術(shù)處理之后的信號。

圖3. 去加重(藍(lán)色)、長通道(白色)、CTLE (紅色)和三階DFE (灰色)對5-Gbit/s信號(黃色)產(chǎn)生的不同效果。
USB 3.0接收端測試
USB 3.0接收端測試類似于其它高速串行總線接收端的一致性測試,一般分為三個階段,開始是受壓眼圖校準(zhǔn),然后是抖動容限測試,最后是分析。下面讓我們看看這個過程的流程圖(圖4)。
受壓眼圖校準(zhǔn)使用最糟糕信號,這個信號通常在垂直方向(通過增加的抖動)和水平方向(通過將幅度設(shè)置為接收端在部署時能看到的最低值)都有損傷。當(dāng)任何測試夾具、電纜或儀器發(fā)生改變時都必須執(zhí)行受壓眼圖校準(zhǔn)。
抖動容限測試將校準(zhǔn)后的受壓眼圖用作輸入,然后施加更高頻率帶來的附加正弦抖動(SJ)。這種SJ將作用于接收端內(nèi)的時鐘恢復(fù)電路,因此不僅使用最差信號條件測試了接收端,而且時鐘恢復(fù)也得到了明確的測試。最后,通過分析評估測試完成后是否需要執(zhí)行額外的設(shè)計任務(wù)才能達(dá)到一致性。
受壓眼圖校準(zhǔn)過程首先要用一致性夾具、電纜和通道設(shè)置好測試設(shè)備(圖5)。下一步是反復(fù)測量和調(diào)整各種類型的外加應(yīng)力,如抖動。校準(zhǔn)步驟執(zhí)行時不需要DUT,但需要一致性測試夾具、通道以及測試設(shè)備產(chǎn)生的特定數(shù)據(jù)圖案。測試儀器應(yīng)能執(zhí)行兩種功能——能夠增加各種應(yīng)力的圖案發(fā)生功能,以及抖動和眼圖測量等信號分析功能。
校準(zhǔn)受壓眼圖時必須完成三種損傷校準(zhǔn):RJ、SJ和眼圖高度。每種校準(zhǔn)都要求對圖案發(fā)生器和分析儀進(jìn)行特定的設(shè)置。對每組電纜、適配器和儀器也必須做一次受壓眼圖校準(zhǔn)。由于使用不同的適配器和參考通道組,主機和設(shè)備將經(jīng)過不同的受壓眼圖校準(zhǔn)過程。一旦完成后,校準(zhǔn)眼圖的設(shè)置可以重復(fù)使用,只有當(dāng)設(shè)備設(shè)置發(fā)生改變時才必須做再次校準(zhǔn)。
額外的圖案發(fā)生器要求
前面已經(jīng)介紹了要求校準(zhǔn)的全部事項,下面讓我們再看看每步校準(zhǔn)對圖案發(fā)生器的附加要求,包括使用的數(shù)據(jù)圖案、去加重程度、SSC是否應(yīng)激活等。在受壓眼圖校準(zhǔn)方案中,列出了兩種圖案,即CP0和CP1。表3列出了所有的USB 3.0一致性圖案供參考。
CP0是一種8b/10b編碼、PRBS-16數(shù)據(jù)圖案(將D0.0字符送到USB 3.0發(fā)送端中進(jìn)行擾碼和編碼的結(jié)果)。經(jīng)過8b/10b編碼后,最長的連1或連0長度從PRBS-16圖案中的16比特減少到了5個比特。CP3是類似于8b/10b編碼過的PRBS-16的圖案,其中包含最短(單個比特)和最長的相同比特序列。
CP1是用于RJ校準(zhǔn)的時鐘圖案。許多儀器在RJ測量時采用dual-Dirac隨機與確定性抖動分離方法。使用時鐘圖案可以避免dual-Dirac方法的一些缺陷,例如將DDJ報告為RJ,特別是針對長圖案。通過使用時鐘圖案,作為ISI結(jié)果的DDJ將從抖動測量中消除,從而形成更精確的RJ測量結(jié)果。
在圖案發(fā)生器和分析儀之間的有損通道(即USB 3.0參考通道和電纜)將導(dǎo)致垂直和水平方向表現(xiàn)為眼圖關(guān)閉的頻率相關(guān)損耗(圖6)。為了解決這種損耗問題,需要使用發(fā)送端去加重技術(shù)提升信號中的高頻分量,從而使BER為10-12或更高的工作鏈路有足夠好的接收眼圖。
從這些眼圖可以看出,沒有去加重時所有幅度名義上都是相同的。采用去加重后,跳變沿比特的幅度要高于非跳變沿比特的幅度,從而有效提升了信號的高頻分量。
在通過有損通道和電纜后,沒有經(jīng)過去加重處理的信號將受到碼間干擾(ISI)的影響,眼圖開度要比經(jīng)過了去加重的信號小。同時,采用去加重的信號是全開的。從這里可以看出,去加重程度會影響ISI和DDJ的程度,進(jìn)而影響接收端的眼圖開度。
在同步數(shù)字系統(tǒng)(包括USB 3.0)中經(jīng)常使用SSC來減小電磁干擾(EMI)。如果不使用SSC,數(shù)字流頻譜中的載頻(即5Gbps)及其諧波處會出現(xiàn)大幅度的尖峰,并且有可能超過調(diào)整極限(圖7)。
為了防止出現(xiàn)這個問題,可以用SSC擴展頻譜能量。在這個案例中載頻被一個三角波所調(diào)制。用于接收端測試的頻率“擴展”量是5000ppm或25MHz,頻率調(diào)制周期為33kHz或每隔30μs,即三角波的一個周期。經(jīng)過SSC后,頻譜中的能量得到了擴展,不會再有單個頻率破壞規(guī)范極限。
如前所述,USB 3.0中的接收側(cè)均衡可以改善被碼間干擾損傷的信號,這種碼間干擾是由于參考通道和電纜中的頻率相關(guān)損耗引起的。這種概念等同于去加重——通過信號處理方法提升信號中的高頻分量。
雖然設(shè)備或主機中的接收端均衡電路與具體實現(xiàn)有關(guān),但USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)為一致性測試規(guī)定了CTLE(圖8)。這種CTLE必須在進(jìn)行一致性測試測量(都是針對發(fā)送端測試,在本例中是接收端受壓眼圖校準(zhǔn))之前,由誤碼率測試儀(BERT)或示波器等參考接收端實現(xiàn),并且通常采用軟件模擬的方式。
使用CTLE模擬進(jìn)行抖動測量主要影響由信號處理方法引起的抖動,即ISI。CTLE模擬不影響與數(shù)據(jù)圖案(如RJ和SJ)不相關(guān)的抖動分量,雖然根據(jù)一致性測試規(guī)范(CTS)這兩種測量都要求使用CTLE。另一方面,眼圖高度會直接受到影響,因為ISI影響測量。
抖動測量時必須使用具有一致性抖動轉(zhuǎn)移函數(shù)(JTF)的時鐘恢復(fù)“黃金PLL”,如圖9中的藍(lán)線所示。JTF表明了有多少抖動從輸入信號轉(zhuǎn)移到下游分析儀。在本例中,-3dB截止頻率是4.9MHz。
在更低的SJ頻率(沿著JTF的傾斜部分,此處的PLL環(huán)路響應(yīng)是平坦的),恢復(fù)時鐘跟蹤數(shù)據(jù)信號上的抖動。這樣,相對于時鐘的數(shù)據(jù)抖動將按照J(rèn)FT得到衰減。在較高的SJ頻率點,JTF變平,PLL響應(yīng)向下傾斜,信號中的SJ部分被轉(zhuǎn)移到下游分析儀。除了受壓眼圖校準(zhǔn)期間的SJ外,所有測量都規(guī)定要使用一致性JTF。
一旦受壓眼圖完成校準(zhǔn),接收端測試就可以開始了。USB 3.0與以前的USB 2.0不同,要求進(jìn)行BER測試。采用抖動容限測試形式的BER測試僅是接收端測試要求的測試項目。抖動容限測試使用最差輸入信號條件試驗接收端(受壓眼圖的校準(zhǔn)見前面部分)。在受壓眼圖頂部,圍繞JTF的-3dB截止頻率且覆蓋一定頻率范圍的一系列SJ頻率和幅度被注入測試信號,同時由誤碼檢測器監(jiān)視接收端的錯誤或比特誤碼,并計算BER。
總結(jié)
隨著USB 3.0開始走向主流,需要對發(fā)送端和接收端進(jìn)行成功的一致性和認(rèn)證測試,這是將新產(chǎn)品推向市場的關(guān)鍵。這些產(chǎn)品不僅要求能與其它USB 3.0設(shè)備一起工作,而且要滿足消費者對各種條件下的性能和可靠性的期望值。
性能的急劇提高帶來了許多新的測試要求,也使得設(shè)計和認(rèn)證比前代標(biāo)準(zhǔn)更具挑戰(zhàn)性。幸運的是,有一整套測試工具和資源可以用來協(xié)助SuperSpeed USB商標(biāo)認(rèn)證。
標(biāo)簽:USB3.0 信號完整性測試
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