Hirayama HAST高加速老化試驗箱維修，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段

日本愛思佩克Espec高低溫試驗箱維修，試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品

導通電阻評估系統 冷熱沖擊試驗箱，系統在低溫、高溫的溫度循環環境下，采用4端子測試法對焊點、連接器接點等導體進行多通道高精度微小電阻連續測量，以評估電子裝配與材料的正確性和可靠性。操作軟件可實時自動測

導通電阻測試系統 高低溫沖擊試驗箱，本系統針對 PCB 通路電阻測試中阻值低、測試精度高的要求，克服了手工測量過程中可能出現的干擾、不穩定等技術問題，實現了對 PCB 多通道低阻測試的解決方案。

電阻電容溫度系數測試系統 ，電阻溫度系數測量系統是依據測試行業規范，集環境試驗參數控制、電阻性能測試、保護評估控制于一體，可按照國際標準規定的環境條件下對試驗樣品進行實時、準確的電阻阻值測量。系統在預

Small Burn-in Tester芯片老化測試，高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備。能使用戶在高低溫條件下對半導體分立器件、光耦、運放、電

(頁面價格供參考，具體請聯系報價) 芯片動態老化測試系統Small Burn-in Tester 高低溫在線測試系統是為航空、航天等單位開發生產的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設備...

是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值變化狀況

HAST 模擬老化壽命加速試驗機，HAST高壓加速老化試驗箱主要用于評估在濕度環境下產品或材料的可靠性，這是通過在高度受控的壓力容器內設定和創建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的。

提供顯示行業 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模組, Micro LED, Mini LED, 車載顯示, LED Light Bar

熱流儀搭配Keysight進行功率器件高低溫測試，高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫熱臺搭配是德B1500系列功率分析儀進行功率器件高低溫測試。

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評估系統絕緣電阻劣化評估系統是一種信賴性試驗設備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經過長時間的測試（1～1000小時）并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生，并記錄電阻值變化狀況，

應用于多層電路板、IC封裝、液晶屏、LED、半導體、磁性材料、NdFeB、稀土、磁鐵等材料的密封性能測試，對上述產品的耐壓力和氣密性進行測試。

Chiller ZL-20A是一臺對循環液進行溫度控制并輸出冷熱液的裝置。具有溫度穩定性高、溫度范圍廣、故障自診斷、外部通信等豐富功能。

用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業。