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掃描探針顯微系統Dimension Icon
- 品牌:德國布魯克
- 型號: Dimension Icon
- 產地:歐洲 德國
- 供應商報價:¥3000000
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瑞科和利(北京)科技有限公司
更新時間:2025-05-21 10:14:25
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銷售范圍售全國
入駐年限第3年
營業執照已審核
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產品特點
- 技術參數:
X-Y方向掃描范圍:90um *90um典型值,Z小85um
Z方向掃描范圍:10um典型值,在成像及力曲線模式下;Z小9.5um
垂直方向噪音基底:<30pmRMS, 在合適的環境及典型的成像帶寬(達到625Hz)
X-Y定位噪音(閉環):<0.15nm RMS,典型成像帶寬(達到625Hz)
X-Y定位噪音(閉環):<0.10nm RMS,典型成像帶寬(達到625Hz)
Z傳感器噪音水平(閉環):<35pm RMS, 典型成像帶寬(達到625Hz)
整體線性誤差(X-Y-Z):0.5% 典型值
樣品尺寸/夾具:210mm真空吸盤樣品臺,直徑210mm, 厚度15mm
電動定位樣品臺(X-Y軸):180mm*180mm可視區域;單向2um重復性;雙向3um重復性。
顯微鏡光學系統:五百萬像素數字照相機
180um至1465um可視范圍
數字縮放及自動對焦功能
控制器:NanoScope V型控制器
工作臺:整合所有控制器、結合人體工學設計,提供直接的物理或可視借口
震動隔絕:整體式氣動減震臺
聲音隔絕:可隔絕環境中85 dBC的持續噪音
詳細介紹
儀器簡介:
最新一代 Dimension系列 AFM
Dimension Icon 原子力顯微鏡(AFM)的性能、功能及附件等方面具有全新表現,在聚合物、半導體、能源、數據存儲及材料領域的納米研究中將會得到廣泛應用。Dimension Icon是Dimension系列產品中的新款設備,它基于世界上應用最廣泛的AFM平臺,集合了數十年的技術創新、行業內領先的應用定制及客戶反饋等于一身。這個系統經過從上到下的設計,在易用性、高分辨率及快速成像等方面有突出表現。相關資訊
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