泰克TPP0502電壓探頭在電源環(huán)路響應(yīng)測(cè)試方案

2022-09-23 15:12:24 112閱讀次數(shù)

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電源是現(xiàn)代工業(yè)的基石，為了設(shè)計(jì)出效率更高、噪聲更小的電源類產(chǎn)品，工程師就需要花更多的時(shí)間和精力在電源的完整性上面（PDN），而針對(duì)電源完整性來說除了我們經(jīng)常提到的開關(guān)損耗、輸入電源質(zhì)量、輸出紋波測(cè)試等以外，我們還會(huì)涉及到環(huán)路響應(yīng)測(cè)試。

環(huán)路響應(yīng)測(cè)試幫助評(píng)估開關(guān)電源的穩(wěn)定性，利用伯德圖來觀察電源控制環(huán)路在不同頻率下的增益和相位，是一種被廣泛采用的高效且直觀的判斷環(huán)路穩(wěn)定性的方法。傳統(tǒng)方法是需要使用網(wǎng)絡(luò)分析儀或者專有的設(shè)備來測(cè)試，但是相對(duì)來說這種測(cè)試成本就非常高了。我們推薦使用電源開發(fā)工程師現(xiàn)有的泰克示波器設(shè)備來進(jìn)行環(huán)路響應(yīng)測(cè)試。

可以使用配有信號(hào)源的示波器測(cè)量反饋環(huán)路電路在其工作條件下的特性。在進(jìn)行環(huán)路響應(yīng)測(cè)量的時(shí)候需要利用相應(yīng)的電路把信號(hào)源提供的掃頻信號(hào)疊加到被測(cè)的反饋環(huán)路上，我們可以使用第三方的信號(hào)注入器產(chǎn)品例PICOTEST J2100系列。利用示波器內(nèi)嵌的功能控制模塊或者上位機(jī)軟件控制信號(hào)源通過信號(hào)注入器將掃頻信號(hào)輸入到注入電阻兩端，并利用示波器測(cè)量注入電阻兩側(cè)的同頻點(diǎn)信號(hào)，隨后把這兩個(gè)測(cè)量結(jié)果進(jìn)行比值計(jì)算得到Z終的測(cè)量結(jié)果。

注入的掃頻信號(hào)幅度不能太高，以避免反饋環(huán)路進(jìn)入非線性區(qū)域。但也需要注意，由于注入電阻本身的阻值較低，從信號(hào)源輸出的信號(hào)幅度會(huì)被大幅的衰減，所以控制信號(hào)源的輸出幅度時(shí)也不能太低，需要根據(jù)待測(cè)物的實(shí)際工作電壓、本身噪聲情況等因素來選擇合理的幅值。此外，注入的信號(hào)經(jīng)過電源反饋環(huán)路的抑制還會(huì)進(jìn)一步衰減，在整個(gè)掃頻過程中要求整體測(cè)量系統(tǒng)能夠具備較低的底噪，以及良好的小信號(hào)拾取能力。

泰克新4、新5系示波器仰賴于其12bit的ADC以及先進(jìn)的硬件設(shè)計(jì)，具有先天性的優(yōu)勢(shì)。對(duì)于其他示波器也應(yīng)當(dāng)啟動(dòng)高分辨率模式以便獲取更好的測(cè)試結(jié)果。在探頭方面，一方面我們要使用高輸入阻抗的探頭來完成探測(cè)，以免影響反饋環(huán)路的工作；另一方面，在掃頻的過程中由于監(jiān)測(cè)的信號(hào)往往可能會(huì)達(dá)到10mV的量級(jí)乃至更低，通常的10:1探頭會(huì)引入極大的誤差，因此我們必須使用1:1或者2:1的低衰減比探頭，例如泰克P2220 6MHz帶寬1:1探頭或者TPP0502 500MHz探頭2:1探頭，并注意盡量使用較短的地線。尤其是如果環(huán)路響應(yīng)測(cè)試高頻段需要做到1MHz以上的場(chǎng)景，高帶寬的TPP0502探頭配合PicoTestJ2101A（10Hz-45MHz）是優(yōu)先推薦的配置。

常規(guī)的測(cè)量頻率范圍通常是從10 Hz或100 Hz的低頻處開始測(cè)量。但一般說來，對(duì)測(cè)量DC-DC變換器的環(huán)路特征Z重要的頻率范圍主要是在幾kHz到幾百kHz之間，電路輸出級(jí)LC濾波器的諧振頻率和環(huán)路的穿越頻率一般都在這個(gè)范圍內(nèi)。此外，電源對(duì)于不同頻段的注入信號(hào)的擾動(dòng)耐受和抑制能力各有不同，測(cè)試系統(tǒng)能允許控制注入信號(hào)在不同頻段設(shè)置不同的幅度，這樣也有助于快速高效地完成環(huán)路響應(yīng)測(cè)試。

當(dāng)我們準(zhǔn)確采集到注入電阻兩端的電壓信號(hào)后，程序需要控制示波器測(cè)量在反饋網(wǎng)絡(luò)（Vin）的頂部和電源直流輸出（Vout）上的交流電壓電平，計(jì)算在掃描頻段內(nèi)每個(gè)測(cè)試頻率點(diǎn)上的增益，dB=20Log(Vout/

Vin)，同時(shí)還測(cè)量Vin和Vout之間的相位差，并繪制出伯德圖。

以下是分別使用泰克MSO5示波器內(nèi)置的環(huán)路響應(yīng)分析功能和基于泰克MDO3000配合上位機(jī)程序?qū)τ趦蓚€(gè)不同電源進(jìn)行環(huán)路響應(yīng)測(cè)試的實(shí)測(cè)結(jié)果：