BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀

來源：丹東百特儀器有限公司      分類：應用方案 2024-03-25 16:45:09 195閱讀次數

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BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀

——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 電位三合一型

  儀 器 簡 介

ABOUT INSTRUEMENT

  BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂級光學檢測系統。該系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

  指標與性能

Index＆performance

 粒徑測試

• 原理：動態光散射技術

• 粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm

• Z小樣品量：3 μL

• 檢測角度：173°&90°&12°

• 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

• 原理：相位分析光散射技術

• 檢測角度：12°

• Zeta范圍：無實際限制

• 電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s

• 電導率范圍：0 - 260 mS/cm

• Zeta測試粒徑范圍：2 nm – 120 μm

分子量測試

• 分子量范圍：342 Da – 2 x 10⁷ Da

微流變測試

• 復數模量、彈性模量、粘性模量、復數黏度、蠕變柔量

趨勢測試

• 模式：時間和溫度

系統參數

• 溫控范圍：-15° C - 110° C，精度±0.1°C

• 標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

• 相關器：Z多 4000 通道，10¹¹ 動態線性范圍

• 檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）

• 光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動

軟件

• 中文和英文

• 符合21CFR Part 11

  原理圖

Optical system

 儀器檢測

 Instruments Testing

  測試項目

• 顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

• 顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

• 分子量

• 分布系數 PDI

• 擴散系數 D

• 流體力學直徑D_h

• 顆粒間相互作用力因子 k_D

• 溶液粘度和折光指數

  測試技術

• 動態光散射

• 電泳光散射

• 靜態光散射

• 微流變
  

企業官網：www.bettersize.com

郵政編碼：118009

電話總機：0415-6193800

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