BeNano Zeta 電位分析儀
BeNano Zeta 電位分析儀
——電泳光散射和相位分析光散射技術測量 Zeta 電位
儀 器 簡 介
BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統。BeNano Zeta 系統基于電泳光散射原理，樣品分散在樣品池中，在樣品池兩端施加一個電場，通過激光照射到電場中的樣品上，光電檢測器在 12°角檢測樣品顆粒電泳運動造成的散射光的多普勒頻移，進而得到體系的 Zeta 電位信息。
指標與性能
Zeta 電位測試
技術：相位分析光散射
檢測角度：12°
Zeta 范圍：無實際限制
電泳遷移率范圍：> ±20 μm.cm/v.s
電導率范圍：0 – 260 mS/cm
Z小樣品量：0.75 mL – 1.0 mL
Zeta 測試粒徑范圍：2 nm – 110 μm
系統參數
溫控范圍：-10° C - 110° C，精度 ±0.1° C
激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm
相關器：Z多 4000 通道，1011 動態線性范圍
檢測器：APD ，高性能雪崩光電二極管
光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動
*取決于樣品和選件
原理圖
儀器檢測
檢測參數
Zeta 電位
Zeta 電位分布
檢測技術
電泳光散射
相位分析光散射
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