BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta 電位分析儀

——背向散射粒度 + Zeta 電位二合一型

儀 器 簡 介

BeNano 180 Zeta納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學檢測系統。該系統中集成了背向動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

指標與性能

Index＆performance

 粒徑測試

• 原理：動態光散射技術

• 粒徑范圍：0.3 nm – 10 μm

• 樣品量：40 μL - 1 mL

• 檢測角度：173°+12°

• 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測試

• 原理：相位分析光散射技術

• 檢測角度：12°

• Zeta范圍：無實際限制

• 電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s

• 電導率范圍：0 - 260 mS/cm

• Zeta測試粒徑范圍：2 nm – 110 μm

分子量測試

• 分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da

微流變測試

• 頻率范圍：0.2 – 1.3 x 107 rad/s

• 測試能力：均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量

粘度和折光率測試

• 粘度范圍：0.01 cp – 100 cp*

• 折光率范圍：1.3-1.6

趨勢測試

• 模式：時間和溫度

系統參數

• 溫控范圍：-15° C - 110° C

• 冷凝控制：干燥空氣或者氮氣
  

• 標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

• 相關器：Z快25 ns采樣，Z多 4000 通道，1011 動態線性范圍

• 檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）

• 光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動

軟件

• 中文和英文

• 符合21CFR Part 11

原理圖

儀器檢測

檢測參數

• 顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

• 顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

• 分子量

• 分布系數 PD.I

• 擴散系數 D

• 流體力學直徑 D H

• 顆粒間相互作用力因子 k D

• 溶液粘度

  檢測技術

• 動態光散射

• 電泳光散射

• 靜態光散射

企業官網：www.bettersize.com

郵政編碼：118009

電話總機：0415-6193800