BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀

BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀

——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 電位三合一型

儀 器 簡(jiǎn) 介

BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂 級(jí)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 +90°動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

指標(biāo)與性能

Index＆performance

粒徑測(cè)試

• 原理：動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)

• 粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm

• 樣品量：3 μL - 1 mL

• 檢測(cè)角度：173°+90°+12°

• 分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS

Zeta電位測(cè)試

• 原理：相位分析光散射技術(shù)

• 檢測(cè)角度：12°

• Zeta范圍：無(wú)實(shí)際限制

• 電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s

• 電導(dǎo)率范圍：0 - 260 mS/cm

• Zeta測(cè)試粒徑范圍：2 nm – 110 μm

分子量測(cè)試

• 分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da

微流變測(cè)試

• 頻率范圍：0.2 – 1.3 x 107 rad/s

• 測(cè)試能力：均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/p>

粘度和折光率測(cè)試

• 粘度范圍：0.01 cp – 100 cp

• 折光率范圍：1.3-1.6

趨勢(shì)測(cè)試

• 模式：時(shí)間和溫度

系統(tǒng)參數(shù)

• 溫控范圍：-15° C - 110° C+/- 0.1°C

• 冷凝控制：干燥空氣或者氮?dú)?br style="margin: 0px; padding: 0px; outline: 0px; max-width: 100%; box-sizing: border-box !important; overflow-wrap: break-word !important;"/>

• 標(biāo)準(zhǔn)激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

• 相關(guān)器：Z快25 ns采樣，Z多 4000 通道，1011 動(dòng)態(tài)線性范圍

• 檢測(cè)器：APD （高性能雪崩光電二極管）

• 光強(qiáng)控制：0.0001% - 100%，手動(dòng)或自動(dòng)

軟件

• 中文和英文

• 符合21CFR Part 11

原理圖

儀器檢測(cè)

檢測(cè)參數(shù)

• 顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

• 顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

• 分子量

• 分布系數(shù) PD.I

• 擴(kuò)散系數(shù) D

• 流體力學(xué)直徑 D H

• 顆粒間相互作用力因子 k D

• 溶液粘度

檢測(cè)技術(shù)

• 動(dòng)態(tài)光散射

• 電泳光散射

• 靜態(tài)光散射